如何優化理論塔板數N
更新時間:2022-06-08 點擊次數:2997
上一期跟大家分享了有關(guan) 理論塔板數的定義(yi) 和影響理論塔板數的因素,今天小編和大家繼續分享,如何來優(you) 化理論塔板數。
先回顧下和理論塔板數相關(guan) 的範德姆特方程:
H表示理論塔板高度,v表示流動相的流速,A表示渦流擴散項,B/v表示縱向擴散項,C*v表示傳(chuan) 質阻力項。
而N=(1/H)L,L是色譜柱的柱長。
調整選擇性以優(you) 化色譜峰之間的間距和zui大化樣品的分離度之後,分離效果一般可令人滿意。然而,通過改變色譜柱的條件(柱長、流速、粒徑)也有可能進一步改善分離的效果,從(cong) 而改變色譜柱的理論塔板數。
請注意,在等度洗脫的實驗裏,如果僅(jin) 僅(jin) 改動色譜柱條件,那麽(me) 相對保留行為(wei) 和色譜柱之間相對間距(保留因子k和選擇性α的值)會(hui) 保持不變;因此,不會(hui) 破壞之前通過改變α而獲得的色譜峰間距的優(you) 化結果。
N值的增加會(hui) 引起分離度的提高,通常也意味著分離時間更長。相反,N值減小可以讓實驗時間縮短—— 在優(you) 化選擇性之後,當分離度Rs>2時,有益於(yu) 實驗本身。
如果其他因素相同,N就應該和柱長成正比,通常來說當填充顆粒的粒徑減小或流動相流速減小N值都會(hui) 增加。當k值變化時,實驗時間和t0成正比,而t0與(yu) L/v成正比。因此,實驗時間會(hui) 隨著柱長的增加而同比增加,或者隨流動相流速的減小而同比增加。同樣地,壓力P會(hui) 隨著柱長或者流速的增加,或者填充顆粒粒徑的減小而增加。
所以,當改變色譜柱條件來改善分離效果時,我們(men) 需要平衡好實驗時間、分離度和係統的壓力。
還有就是,如果改變色譜柱條件是為(wei) 了提高分離度或者加快實驗速度,建議不要改變鍵合相,這是為(wei) 了避免柱子選擇性出現變化。
假設我們(men) 可以獲得合適的儀(yi) 器設備的柱子條件,分離時間取決(jue) 於(yu) zui後一個(ge) 峰的k值和分離度zui低的色譜峰對(“關(guan) 鍵")的α值。一旦“zui jia"的k值和α值確定後(選擇性的優(you) 化),分離度和分離時間就由N值決(jue) 定了。有助於(yu) 實現快速分離的條件包括較小的填充顆粒,較短的柱子和較高的流動相流速。
進一步縮短分離時間(要保證N值不能被減少)可以通過下麵一個(ge) 或多個(ge) 辦法來實現:
● 超高壓;
● 更高的溫度;
● 特殊設計的填充顆粒。
UHPLC可用於(yu) 獲得更好的分離度或者縮短實驗操作時間。需要注意的是,當柱壓超過34MPa的時候,某些之前認為(wei) 的關(guan) 係開始明顯不再成立。流動相的黏度隨著柱壓的增加而增大,因此壓力再也無法隨著流速的增加而同比增加。k值和α值也取決(jue) 於(yu) 係統壓力,因此就和柱子的條件相關(guan) ;這種情況在係統壓力比較低時就不明顯。
zui後需要注意的是,當液體(ti) 流經一根填充的柱子時會(hui) 產(chan) 生熱量,這個(ge) 熱量和貫穿整個(ge) 柱子的壓力成正比。柱子裏發生溫度改變可能會(hui) 對峰形和理論塔板數產(chan) 生負麵的影響,以及進一步改變k值和α值。
溫度越高,N值也會(hui) 相應增加。升高溫度的同時會(hui) 導致流動相黏度降低和溶質分子的擴散係數Dm增加。提高溫度,在理論上可以用來縮短實驗時間而同時保持N值不變,或者增加N值而保持實驗時間不變。高溫操作的優(you) 勢也會(hui) 被一些相應的劣勢所抵消。所以溫度,通常是Nzui大值和αzui大值間的妥協。
除了通常使用的全多孔顆粒之外,還有其它類型的柱子:薄殼型(pellicular)或者核殼型(表麵多孔)顆粒填充的柱子和整體(ti) 柱。關(guan) 於(yu) 這些柱子,我們(men) 在其它推文中也有介紹。
薄殼型和核殼型顆粒對於(yu) 大分子的分離具有特別優(you) 勢,對範德姆特方程方程中,傳(chuan) 質阻力項Cv的貢獻減少了。薄殼型的色譜柱是以一層薄的多孔填料塗覆在實心的矽膠柱上構成的,因此很容易發生超載,這使得它的使用局限在一些很小的樣品上(也就是進樣量必須要很小)。
核殼型柱子的多孔填料層比薄殼型柱子的厚,這使得它們(men) 能夠承載幾乎和全多孔柱一樣多的樣品量。在其它實驗條件都相同的情況下,整體(ti) 柱比顆粒柱更加具有滲透性,這就允許應用更高的流速,並且也能實現快速分離。